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74LVT32374EC,518
- Modello di prodotti:
- 74LVT32374EC,518
- fabbricante:
- NXP Semiconductors / Freescale
- Descrizione:
- IC D-TYPE POS TRG QUAD 96LFBGA
- Stato Lead senza piombo / RoHS:
- Senza piombo / RoHS conforme
- quantità disponibile:
- 19389 Pieces
- Scheda dati:
- 74LVT32374EC,518.pdf
introduzione
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Specifiche
| Tensione di alimentazione -: | 2.7 V ~ 3.6 V |
|---|---|
| Digitare: | D-Type |
| Tipo di trigger: | Positive Edge |
| Serie: | 74LVT |
| imballaggio: | Tape & Reel (TR) |
| Contenitore / involucro: | 96-LFBGA |
| Tipo di uscita: | Tri-State, Non-Inverted |
| Altri nomi: | 74LVT32374EC-T 74LVT32374EC-T-ND 935270390518 |
| temperatura di esercizio: | -40°C ~ 85°C (TA) |
| Numero di elementi: | 4 |
| Numero di bit per elemento: | 8 |
| Tipo montaggio: | Surface Mount |
| Livello di sensibilità umidità (MSL): | 4 (72 Hours) |
| Max Ritardo di propagazione @ V, Max CL: | 5.3ns @ 3.3V, 50pF |
| codice articolo del costruttore: | 74LVT32374EC,518 |
| Capacità di ingresso: | 3pF |
| Funzione: | Standard |
| Descrizione: | IC D-TYPE POS TRG QUAD 96LFBGA |
| Corrente - Di riposo: | 240µA |
| Corrente - uscita alta, bassa: | 32mA, 64mA |
| Frequenza dell'orologio: | 150MHz |
| Email: | [email protected] |
Parti relative per 74LVT32374EC,518
| Immagine | Modello di prodotti | Produttori | Descrizione | vista |
|---|---|---|---|---|
 |
74LVT32374EC,557 | NXP USA Inc. | IC D-TYPE POS TRG QUAD 96LFBGA | Inchiesta |
 |
74LVT32PW,112 | NXP USA Inc. | IC GATE OR 4CH 2-INP 14-TSSOP | Inchiesta |
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74LVT32374EC/G,518 | NXP USA Inc. | IC D-TYPE POS TRG QUAD 96LFBGA | Inchiesta |
|
74LVT32374EC/G,557 | NXP USA Inc. | IC D-TYPE POS TRG QUAD 96LFBGA | Inchiesta |
 |
74LVT32DB,112 | NXP USA Inc. | IC GATE OR 4CH 2-INP 14-SSOP | Inchiesta |
 |
74LVT32D,112 | NXP USA Inc. | IC GATE OR 4CH 2-INP 14-SO | Inchiesta |
|
74LVT32DB,118 | NXP USA Inc. | IC GATE OR 4CH 2-INP 14-SSOP | Inchiesta |
|
74LVT32PW/AUJ | NXP USA Inc. | IC GATE OR 4CH 2-INP 14-TSSOP | Inchiesta |
|
74LVT32PW,118 | NXP USA Inc. | IC GATE OR 4CH 2-INP 14-TSSOP | Inchiesta |
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