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SN74ABT18640DGGR
- Modello di prodotti:
- SN74ABT18640DGGR
- fabbricante:
- Descrizione:
- IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
- Stato Lead senza piombo / RoHS:
- Senza piombo / RoHS conforme
- quantità disponibile:
- 17579 Pieces
- Scheda dati:
- SN74ABT18640DGGR.pdf
introduzione
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Specifiche
| Tensione di alimentazione: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Contenitore dispositivo fornitore: | 56-TSSOP |
| Serie: | 74ABT |
| imballaggio: | Tape & Reel (TR) |
| Contenitore / involucro: | 56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
| Altri nomi: | 296-3941-2 |
| temperatura di esercizio: | -40°C ~ 85°C |
| Numero di bit: | 18 |
| Tipo montaggio: | Surface Mount |
| Livello di sensibilità umidità (MSL): | 1 (Unlimited) |
| codice articolo del costruttore: | SN74ABT18640DGGR |
| Tipo Logic: | Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers |
| Descrizione espansione: | Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers IC 56-TSSOP |
| Descrizione: | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP |
| Email: | [email protected] |
Parti relative per SN74ABT18640DGGR
| Immagine | Modello di prodotti | Produttori | Descrizione | vista |
|---|---|---|---|---|
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SN74ABT18640DLRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | Inchiesta |
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SN74ABT18504PMR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | Inchiesta |
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SN74ABT18646PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Inchiesta |
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SN74ABT18504PMRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | Inchiesta |
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SN74ABT18640DLR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | Inchiesta |
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SN74ABT18504PMG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | Inchiesta |
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SN74ABT18652PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Inchiesta |
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SN74ABT18245ADL | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | Inchiesta |
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SN74ABT18640DL | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | Inchiesta |
|
SN74ABT18245ADGGR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | Inchiesta |
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