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SN74BCT8374ANT
- Modello di prodotti:
- SN74BCT8374ANT
- fabbricante:
- Descrizione:
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
- Stato Lead senza piombo / RoHS:
- Senza piombo / RoHS conforme
- quantità disponibile:
- 15759 Pieces
- Scheda dati:
- SN74BCT8374ANT.pdf
introduzione
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Specifiche
| Tensione di alimentazione: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Contenitore dispositivo fornitore: | 24-PDIP |
| Serie: | 74BCT |
| imballaggio: | Tube |
| Contenitore / involucro: | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| temperatura di esercizio: | 0°C ~ 70°C |
| Numero di bit: | 8 |
| Tipo montaggio: | Through Hole |
| Livello di sensibilità umidità (MSL): | 1 (Unlimited) |
| codice articolo del costruttore: | SN74BCT8374ANT |
| Tipo Logic: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Descrizione espansione: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP |
| Descrizione: | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP |
| Email: | [email protected] |
Parti relative per SN74BCT8374ANT
| Immagine | Modello di prodotti | Produttori | Descrizione | vista |
|---|---|---|---|---|
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SN74BCT8374ADWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Inchiesta |
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SN74BCT8374ADWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Inchiesta |
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SN74BCT8374ANTG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | Inchiesta |
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SN74BCT8373ADWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | Inchiesta |
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SN74BCT8373ADWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Inchiesta |
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SN74BCT8373ADWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Inchiesta |
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SN74BCT8373ANT | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP | Inchiesta |
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SN74BCT8374ADW | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Inchiesta |
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SN74BCT8374ADWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | Inchiesta |
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SN74BCT8373ADW | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Inchiesta |
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