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SN74LVTH182504APM
- Modello di prodotti:
- SN74LVTH182504APM
- fabbricante:
- Descrizione:
- IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
- Stato Lead senza piombo / RoHS:
- Senza piombo / RoHS conforme
- quantità disponibile:
- 12959 Pieces
- Scheda dati:
- SN74LVTH182504APM.pdf
introduzione
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Specifiche
| Tensione di alimentazione: | 2.7 V ~ 3.6 V |
|---|---|
| Contenitore dispositivo fornitore: | 64-LQFP (10x10) |
| Serie: | 74LVTH |
| imballaggio: | Tray |
| Contenitore / involucro: | 64-LQFP |
| Altri nomi: | 296-8697 |
| temperatura di esercizio: | -40°C ~ 85°C |
| Numero di bit: | 20 |
| Tipo montaggio: | Surface Mount |
| Livello di sensibilità umidità (MSL): | 3 (168 Hours) |
| Produttore tempi di consegna standard: | 6 Weeks |
| codice articolo del costruttore: | SN74LVTH182504APM |
| Tipo Logic: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| Descrizione espansione: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10) |
| Descrizione: | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP |
| Email: | [email protected] |
Parti relative per SN74LVTH182504APM
| Immagine | Modello di prodotti | Produttori | Descrizione | vista |
|---|---|---|---|---|
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SN74LVTH18502APMR | Texas Instruments | IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | Inchiesta |
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SN74LVTH182512DGGR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP | Inchiesta |
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SN74LVTH182502APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Inchiesta |
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SN74LVTH18504APMR | Texas Instruments | IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | Inchiesta |
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SN74LVTH18646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Inchiesta |
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