Acquistare SN74LVTH18514DGGR con BYCHPS
Acquista con garanzia
SN74LVTH18514DGGR
- Modello di prodotti:
- SN74LVTH18514DGGR
- fabbricante:
- Descrizione:
- IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP
- Stato Lead senza piombo / RoHS:
- Senza piombo / RoHS conforme
- quantità disponibile:
- 19041 Pieces
- Scheda dati:
- SN74LVTH18514DGGR.pdf
introduzione
BYCHIPS è il distributore di calze per SN74LVTH18514DGGR, abbiamo le scorte per la spedizione immediata e anche disponibili per la fornitura di molto tempo. Vi preghiamo di inviarci il vostro piano di acquisto per SN74LVTH18514DGGR via email, ti daremo il miglior prezzo secondo il tuo piano.
Specifiche
| Tensione di alimentazione -: | 2.7 V ~ 3.6 V |
|---|---|
| Contenitore dispositivo fornitore: | 64-TSSOP |
| Serie: | 74LVTH |
| imballaggio: | Tape & Reel (TR) |
| Contenitore / involucro: | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
| Altri nomi: | 296-8702-2 74LVTH18514DGGRE4 74LVTH18514DGGRE4-ND 74LVTH18514DGGRG4 74LVTH18514DGGRG4-ND |
| temperatura di esercizio: | -40°C ~ 85°C |
| Numero di circuiti: | 20-Bit |
| Tipo montaggio: | Surface Mount |
| Livello di sensibilità umidità (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Produttore tempi di consegna standard: | 6 Weeks |
| codice articolo del costruttore: | SN74LVTH18514DGGR |
| Tipo Logic: | Scan Test Universal Bus Transceiver |
| Descrizione espansione: | Scan Test Universal Bus Transceiver 20-Bit 64-TSSOP |
| Descrizione: | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP |
| Corrente - uscita alta, bassa: | 32mA, 64mA |
| Email: | [email protected] |
Parti relative per SN74LVTH18514DGGR
| Immagine | Modello di prodotti | Produttori | Descrizione | vista |
|---|---|---|---|---|
|
SN74LVTH18512DGGR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | Inchiesta |
|
SN74LVTH18502APMG4 | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Inchiesta |
|
SN74LVTH18646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Inchiesta |
|
SN74LVTH18504APMG4 | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Inchiesta |
|
SN74LVTH182652APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP | Inchiesta |
|
SN74LVTH18504APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Inchiesta |
|
SN74LVTH18652APM | Texas Instruments | IC TXRX/REG 18BIT 3.3V 64-LQFP | Inchiesta |
|
SN74LVTH18504APMR | Texas Instruments | IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | Inchiesta |
|
SN74LVTH182502APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Inchiesta |
|
SN74LVTH18502APMR | Texas Instruments | IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | Inchiesta |
|
SN74LVTH182646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Inchiesta |
|
SN74LVTH18511DGGR | Texas Instruments | IC UNIV BUS TXRX 18BIT 48TSSOP | Inchiesta |
|
SN74LVTH182504APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Inchiesta |
|
SN74LVTH18502APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Inchiesta |
Latest Notizie
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI to reduce costs in Wireless business; OMAP™ processors and wireless connectivity solutions will focus on embedded markets
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers